FRA（周波数特性分析器）を利用できない場合でも、位相余裕度およびゲイン余裕度を簡易的にも確認する方法はありませんか?|FAQ|ROHM Semiconductor

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FRA（周波数特性分析器）を利用できない場合でも、位相余裕度およびゲイン余裕度を簡易的にも確認する方法はありませんか?
- 周波数特性は、負荷応答と等価な意味合いを持ちますので、FRAを使うことができない場合は電子負荷などを用いて、想定される負荷において負荷応答試験を行うことで確認可能です。位相余裕が不足している場合には、負荷応答波形にリンギングが発生し、不安定な波形が観測されるます。波形が安定しているかどうかで、位相補償が適正かどうかの判断が可能です。以下リンク先にアプリケーションノートがありますので参照ください。
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