Internet Explorerをお使いのお客様へ： ロームウェブサイトはIE11を推奨ブラウザとしていません。ロームウェブサイトを快適にご使用いただくにはブラウザを更新してください。
ROHM
会社案内 サステナビリティ 投資家情報 研究開発 採用情報 お問い合わせ
会員登録/ログイン
  • 製品情報
  • 技術サポート
  • アプリケーション
  • 拠点情報
  • 購入 / サンプル
  • 製品情報
  • 技術サポート
  • アプリケーション
  • 拠点情報
  • 購入 / サンプル
会員登録/ログイン
会社案内 サステナビリティ 投資家情報 研究開発 採用情報 お問い合わせ
  • Home
  • FAQ Search
  • オペアンプについて、静電気印加試験(HBM、MM、CDM)は、ICの全端子を評価していますか？
View ALL FAQ
お問い合わせ
FAQ's
  • オペアンプについて、
    静電気印加試験(HBM、MM、CDM)は、ICの全端子を評価していますか？
    • 静電気印加試験(HBM、MM、CDM)は、GND(VEE/VSS)端子、VCC(VDD)端子をコモン端子(基準)とし、全端子を評価しています。
      • Products: Standard Operational Amplifiers , Low Power Operational Amplifiers , Low Noise Operational Amplifiers , Low Offset Voltage Operational Amplifiers: Input-Output Full Swing , Low Offset Voltage Operational Amplifiers: Dual Supply Voltage , High Speed Operational Amplifiers  
  • 利用規約
  • SNS利用規約
  • プライバシーポリシー
  • ローム製品の販売に関する標準契約条件書(PDF)
  • サステナビリティ
  • 採用情報
  • 研究開発
  • Patent Marking
  • 会社案内
  • 投資家情報
  • サイトマップ
  • お問い合わせ
  • Lapis
  • Kionix
  • SiCrystal

© 1997 - 2022 ROHM Co., Ltd. All rights reserved.

ロームWebサイトはCookieを使用しております。

 

引き続きロームWebサイトを閲覧・利用することで、Cookieの使用に同意したものとみなします。

Cookieおよび個人情報の取扱いに関しての詳細は、プライバシーポリシーをご覧ください。

プライバシーポリシー
Topへ戻る
Please Wait...