Home | FAQ Search
 
FAQ's
Show All Answers
Hide All Answers
showing 1 to 10 of 44
  • 電力軽減曲線で横軸の「周囲温度」はどういう温度なのですか?
    • 抵抗器自体に電力負荷されていない状況で、室温や抵抗器周囲の発熱によって抵抗器が暴露される抵抗器周辺の雰囲気温度です。JIS規格では2種類の規格に定義が記載されてます。JIS C 0010規格「環境試験方法-電気・電子-通則」の4.6項は「次の二つの場合に対して定義した空気温度」とあり、「4.6.2項発熱供試品の場合」では、「供試品からの距離が熱放散の影響が無視できる位置での自由空間状態の空気温度」と定義されております。さらに温度測定方法を「備考」で示してあります。
      「備考  実際の周囲温度は、供試品と槽壁までの距離の1/2または供試品から1mのいずれか小さい距離での、供試品の下方0mm~50mmに位置する水平面中の数点で測定した温度の平均として求める。 これらの測定には、発熱の影響を避けるために適切な注意を払うこと」となっています。「4.6.1項 非発熱供試品の場合」では、「供試品の周囲の空気温度」となっています。

      JIS指針としては、JIS C 0095規格(環境試験方法-電気・電子-低温試験及び高温試験を理解するための必須情報)に、「1.4項 周囲温度」として記載してあります。「部品及び装置の使用者は、特に装置使用者は、その製品の動作中の周囲温度の最高値及び最低値を知る必要があり、試験のためにこれらの値を規定することが望ましい。熱伝達は温度こう配に関係しており、デバイスの周囲の媒体の温度は必然的に空間的な変化をするため、周囲温度を定義するのにある種の困難性がある。したがって、周囲の雰囲気の”周囲温度”を特別に定義しなければならない。」と記載されております。
    • Products: Resistors
  • ウイスカ評価はどのように行っていますか?
    • 評価試験として3項目行っています。1つ目として温度サイクル試験があります。試験条件は、-30℃ / 80℃で、3000サイクルで実施します。2つ目の試験として、高温高湿試験があります。試験条件は、60℃、85%RHで、2000時間(約83日間)実施しています。3つ目の試験は、常温放置試験です。試験条件は3000時間(約125日間)です。実施した後、製品電極表面をSEM(走査電子顕微鏡)観察して判定しております。故障判定基準は、ウイスカ成長が0.1mm以下の長さであることです。
    • Products: Resistors
  • チップ抵抗器の推奨はんだ付け条件はどのようになっていますか?
    • 「はんだ付け条件」を紹介しています。鉛フリーはんだペースト(Sn-3Ag-0.5Cu)をベースにした条件で提示しております。フローはんだ付け工法、手付けはんだは、超小型チップ抵抗器(0603サイズ)、チップネットワ-ク抵抗器(1005×2連、×4連、1608×2連、×4連、×8連)は推奨しておりません。隣接する電極間ではんだブリッジを発生する可能性があるためです。使用される場合は、お客様の設備、実装基板で充分に確認評価をお願いいたします。
    • Products: Resistors
  • チップ抵抗器のパルス限界電力はどのように考えればよいのでしょうか?
    • 限界電力の保証範囲は、パルス時間に関係なく、各チップ抵抗器別の定格電力あるいは素子最高電圧によって規制されます。単パルス(抵抗器に1回だけのパルス電圧を負荷する方式)の場合は、参考値として個別データで負荷の限界値を提示しております。連続パルス(一定時間に周期的にパルス電圧を負荷する方式)の場合も試験装置で対応できる範囲内で参考値として個別デ-タで負荷の限界値を提示しております。
    • Products: Resistors
showing 1 to 10 of 44
of 5